Отличная статья по технологии SMART. Достаточно объемная, так что ограничусь постингом содержания:

1. Технология S.M.A.R.T

1.1. Общее описание
1.2. Развитие технологии S.M.A.R.T.

1.3. Атрибуты (attribute)

1.3.1. Значения атрибутов (attribute values)
1.3.2. Пороговые значения атрибутов (attribute thresholds)
1.3.3. Краткое описание основных атрибутов
1.3.4. Типы атрибутов

1.4. Автономное сканирование поверхности (off-line read scanning)
1.5. Журналы ошибок (error log)

1.5.1. Log Directory
1.5.2. Summary Error Log
1.5.3. Comprehensive Error Log
1.5.4. Extended Comprehensive Error Log
1.5.5. Self-test Log
1.5.6. Extended Self-test Log
1.5.7. Streaming Performance Log
1.5.8. Write Stream Error Log
1.5.9. Read Stream Error Log
1.5.10. Delayed LBA Sector Log
1.5.11. ECC Uncorrectable Sector Log
1.5.12. Reassigned Sector Log
1.5.13. Drive Activity Log
1.5.14. Drive Time Buffer Log
1.5.15. Host Vendor Specific Log
1.5.16. Device Vendor Specific Log

1.6. Встроенные функции самоконтроля (self-test)

1.6.1. Методы тестирования
1.6.2. Разновидности тестов S.M.A.R.T.